Filmetrics F40 薄膜测厚仪

Filmetrics F40 薄膜测厚仪

结合显微镜的薄膜测量系统

Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。
当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行，或者其他应用要求光斑小至1微米时，F40是的选择。使用先前足部校正显微镜的物镜，再进行测量，即可获得精准的厚度及光学参数值。只要透过Filmetrics的C-mount连接附件，F40就可以和市面上多数的显微镜连接使用。C-mount上装备有CCD摄像头，可以让用户从电脑屏幕上清晰地看到样品和测量位置。

Filmetrics优势
? 桌面型薄膜厚度测量的
? 24小时电话、Email、在线技术支持
? 直观的分析软件 

附 加 特 性

? 嵌入式在线诊断方式

? 离线分析软件

? 精细的历史数据功能，帮助用户的存储，重现与绘制测试结果

相关应用

半导体制造                     生物原件
? 光刻胶                       ? 聚合物/聚对二
? 氧化物/氮化物                  ? 生物膜/气泡墙厚度
? 硅或其他半导体膜层              ? 植入涂层

微电子                        液晶显示器
? 光刻胶                        ? 盒厚
? 硅膜                         ? 聚酰亚胺 
? 氮化铝/氧化锌薄膜滤镜             ? 导电透明膜

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