江苏天瑞仪器股份有限公司
X荧光膜厚测量技术
2024/3/26 14:01:00
EDX-T是天瑞仪器股份有限公司集30多年X荧光膜厚测量技术,研发的一款上照式X射线荧光分析仪,该仪器配置嵌入集成式多准直孔、滤光片 zi 动切换装置和双摄像头,呈现出高清广角视野;自动化的X/Y/Z轴的三维移动对平面、凹凸、拐角、弧面等各种形态样品进行快速对焦jing准分析。对半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试。
分析chao薄镀层,如镀层≤0.01um的Au,Pd,Rh,Pt等镀层;
测量chao小样品,直径≤0.1mm
印刷线路板上RoHS要求的痕量分析
合金材料的成分分析以及电镀液分析
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
设计特点
上照式设计,适应geng多异型微小样品的测试。可变焦gao jing 双摄像头,搭配距离补正系统,呈现quan高清广角视野,较好的man zu 微小产品、台阶、深槽、沉孔样品的测试需求。gao jing 度伺服电机扩大XY平台移动范围,可多点编程、网格编程、矩阵编程,zi动完成客户多个产品及多个测试点的连续测量,自带数据校正系统,bao zheng 测量数据的wen ding 性。
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