补充资料：X射线型成分分析仪

X射线型成分分析仪
X-ray analysis

　　Xshex一onx旧9 ehengfen fenxly-x射线型成分分析仪(X一ray analyser)利用X射线与元素原子轨道上的电子相互作用所发生的光电效应检测物料化学组成的物料成分分析设备。 X射线是波长为1。一‘2一1。一吕m的电磁波，对物质有较强的穿透能力，并和物质产生包括光电效应在内的多种相互作用。根据发生光电效应后，光子和电离原子的变化情况，可将X射线成分分析分为X射线吸收分析和X射线荧光分析两类。 x射线吸收分析利用原子在一定条件下对射线的选择性吸收分析物质的成分。用射线光子使某原子电离，只能发生在光子能量等于或大于该原子的轨道电子的结合能的条件下，此结合能即是该原子的“吸收限”(吸收边)，当光子能量等于或接近吸收限时，原子对射线的吸收呈现跳跃式的增加，这种现象称为原子对射线的选择性吸收。不同的原子及其各层轨道电子均有不同的吸收限，可以利用这种现象来分析物质的元素。这种型式的分析仪对射线源及分辨系统的要求高，故较少使用，通常仅用于分析铅、钗、钨、铀等重元素。此时，样品中其他元素的吸收限远低于这些重元素，对所用射线产生选择性吸收的几率极小。检测射线透过一定厚度样品后的强度，便可得知目的元素的含量。 x射线荧光分析利用物质的元素被X射线照射后能产生特征X射线(荧光)的现象分析物料成分。当分子的某层轨道电子受到光子照射脱离原子后，其空位将由位于较高能级的电子通过跃迁来补充，同时以X射线形式辐射出多余的能量，此能量等于跃迁电子的能级差△E。每种元素的电子能级都不相同，各层轨道的能级也各异，所以，称这种X射线为特征X射线或X射线荧光，并可根据其特征的么E值来分析元素。特征X射线波长几~h‘/△E，式中h为普朗克常数，。为光速，可以由测定特征波长来分析元素，它们间的关系为人一K(Z一S)，式中，K、S为常数，Z为原子序数。用这种方法可以分析原子序数Z>3的所有元素，是分析物料成分的主要方法。由于轻元素的荧光能量小，分析精度低，故多用于分析Z为12一92的元素。 X射线荧光分析仪按其所用射线源种类分为X射线管式和放射性同位素式两种;按对荧光的色散方法分为波长色散型和能量色散型两种;按使用条件分为离线式、在线式和在流式以及大型和轻便型等。它们实际上又互相交叉，构成种类繁多的分析仪。这些仪器 1般由射线源、谱仪、探测器、单道或多道分析器、计数率计以及电子线路等部分组成。现代的分析仪均配有微机和相应装置以及多种应用和操作软件。