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发布了文章2024-7-8 16:11DECAP:即开封,业内也称开盖,开帽。是指将完整封装的IC做局部腐蚀,使得IC可以暴露出来 ,同时保持芯片功能的完整无损,为下一步芯片失效分析实验做准备,方便观察或做其他测试。通过芯片开封,我们可以更为直观的观察到芯片内部结构,从而结合O...0418次阅读0条评论
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关注了版块2022-10-8 13:34225613 人关注
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